儀器儀表在電子市場(chǎng)中是不可缺少的一部分，它的使用功能與范圍也是很廣的，那么對(duì)于故障的儀器儀表該怎么維修呢?以下是學(xué)習(xí)啦小編為你整理的儀器儀表的維修方法，希望能幫到你。

　　儀器儀表的維修方法

　　1、升降溫法

　　有時(shí)，儀表工作較長(zhǎng)時(shí)間，或在夏季工作環(huán)境溫度較高時(shí)就會(huì)出現(xiàn)故障，關(guān)機(jī)檢查正常，停一段時(shí)間再開機(jī)又正常，過一會(huì)兒又出現(xiàn)故障。這種現(xiàn)象是由于個(gè)別IC或元器件性能差，高溫特性參數(shù)達(dá)不到指標(biāo)要求所致。為了找出故障原因，可采用升降溫法 。

　　所謂降溫，就是在故障出現(xiàn)時(shí)，用棉纖將無水酒精在可能出故障的部位抹擦，使其降溫，觀察故障是否消除。所謂升溫就是人為地將環(huán)境溫度升高，比如用電烙鐵放近有疑點(diǎn)的部位(注意切不可將溫度升得太高以致?lián)p壞正常器件)試看故障是否出現(xiàn)。

　　2、騎肩法

　　騎肩法也稱并聯(lián)法。把一塊好的IC芯片安在要檢查的芯片之上，或者把好的元器件(電阻電容、二極管、三極管等)與要檢查的元器件并聯(lián)，保持良好接觸，如果故障出自于器件內(nèi)部開路或接觸不良等原因，則采用這種方法可以排除。

　　3、電容旁路法

　　當(dāng)某一電路產(chǎn)生比較奇怪的現(xiàn)象，例如顯示器混亂時(shí)，可以用電容旁路法確定大概出故障的電路部分。將電容跨接在IC的電源和地端;對(duì)晶體管電路跨接在基極輸入端或集電極輸出端，觀察對(duì)故障現(xiàn)象的影響。如果電容旁路輸入端無效而旁路它的輸出端時(shí)故障現(xiàn)象消失，則確定故障就出現(xiàn)在這一級(jí)電路中。

　　4、狀態(tài)調(diào)整法

　　一般來說，在故障未確定前，不要隨便觸動(dòng)電路中的元器件，特別是可調(diào)整式器件更是如此，例電位器等。但是如果事先采取復(fù)參考措施(例如，在未觸動(dòng)前先做好位置記號(hào)或測(cè)出電壓值或電阻值等)，必要時(shí)還是允許觸動(dòng)的。也許改變之后有時(shí)故障會(huì)消除。

　　5、隔離法

　　故障隔離法不需要相同型號(hào)的設(shè)備或備件作比較，而且安全可靠。根據(jù)故障檢測(cè)流程圖，分割包圍逐步縮小故障搜索范圍，再配合信號(hào)對(duì)比、部件交換等方法，一般會(huì)很快查到故障之所在。

　　6、觀察法

　　利用視覺、嗅覺、觸覺。某些時(shí)候，損壞了的元件會(huì)變色、起泡或出現(xiàn)燒焦的斑點(diǎn);燒壞的器件會(huì)產(chǎn)生一些特殊的氣味;短路的芯片會(huì)發(fā)燙;用肉眼也能觀察到虛焊或脫焊處。

　　7、排除法

　　所謂的排除法是通過拔插機(jī)內(nèi)一些插件板、器件來判斷故障原因的方法。當(dāng)拔除某一 插件板或器件后儀表恢復(fù)正常，就說明故障發(fā)生在那里。

　　8、替換法

　　要求有兩臺(tái)同型號(hào)的儀器或有足夠的備件。將一個(gè)好的備品與故障機(jī)上的同一元器件進(jìn)行替換，看故障是否消除。

　　9、對(duì)比法

　　要求有兩臺(tái)同型號(hào)的儀表，并有一臺(tái)是正常運(yùn)行的。使用這種方法還要具備必要的設(shè)備，例如，萬用表、示波器等。按比較的性質(zhì)分有，電壓比較、波形比較、靜態(tài)阻抗比較、輸出結(jié)果比較、電流比較等。

　　10、敲擊手壓法

　　經(jīng)常會(huì)遇到儀器運(yùn)行時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象，這種現(xiàn)象絕大多數(shù)是由于接觸不良或虛焊造成的。對(duì)于這種情況可以采用敲擊與手壓法。

　　所謂的“敲擊”就是對(duì)可能產(chǎn)生故障的部位，通過小橡皮鎯頭或其他敲擊物輕輕敲打插件板或部件，看看是否會(huì)引起出錯(cuò)或停機(jī)故障。所謂“手壓”就是在故障出現(xiàn)時(shí)，關(guān)上電源后對(duì)插的部件和插頭和座重新用手壓牢，再開機(jī)試試是否會(huì)消除故障。如果發(fā)現(xiàn)敲打一下機(jī)殼正常，再敲打又不正常時(shí)，最好先將所有接頭重插牢再試，若傷腦筋不成功，只好另想辦法了。

　　靜電對(duì)電子元器件儀器儀表的危害

　　電子元器件儀器儀表按其種類不同，受靜電破壞的程度也不一樣，最低的100V的靜電壓也會(huì)對(duì)其造成破壞。近年來隨著電子元器件儀器儀表發(fā)展趨于集成化，因此要求相應(yīng)的靜電電壓也在不斷減弱。人體平常所感應(yīng)的靜電電壓在2-4KV以上，通常是由于人體的輕微動(dòng)作或與絕緣物的磨擦而引起的。也就是說，倘若我們?nèi)粘Ｉ钪兴鶐У撵o電電位與IC接觸，那么幾乎所有的IC都將被破壞，這種危險(xiǎn)存在于任何沒有采取靜電防護(hù)措施的工作環(huán)境中。靜電對(duì)IC的破壞不僅體現(xiàn)在電子元器件儀器儀表的制造工序當(dāng)中，而且在IC的組裝、遠(yuǎn)輸?shù)冗^程中都會(huì)對(duì)IC產(chǎn)生破壞。

　　儀器儀表測(cè)試系統(tǒng)分類

　　儀器儀表式測(cè)試系統(tǒng)

　　儀器儀表式測(cè)試系統(tǒng)一般包括多個(gè)測(cè)試單元，每個(gè)測(cè)試單元完全獨(dú)立，測(cè)試單元包括一次傳感器及二次儀表兩個(gè)部分;一次傳感器一般為交流互感器或直流分流器，其特點(diǎn)是一次傳感器及二次儀表均按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)，標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)均可溯源。因此，用戶可以靈活選擇不同廠家的傳感器及儀表，自行組建測(cè)試系統(tǒng)。

　　早期的儀器儀表通常功能比較單一，以功率測(cè)試系統(tǒng)而言，由電壓表、電流表、頻率計(jì)、功率計(jì)等構(gòu)成。現(xiàn)代新型的功率測(cè)試儀器(一般稱功率分析儀)則由一臺(tái)儀器完成上述所有參量的測(cè)量。

　　儀器儀表式測(cè)試系統(tǒng)在電機(jī)試驗(yàn)中被廣泛采用，對(duì)于傳統(tǒng)工頻測(cè)量，技術(shù)已經(jīng)相當(dāng)成熟。主要難度在于低功率因數(shù)、變頻等測(cè)試。

　　集中式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

　　集中式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)將各種類型的傳感器輸出的模擬或數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)可以識(shí)別的數(shù)字量，由計(jì)算機(jī)接口采集成為內(nèi)存中的數(shù)據(jù)，按需要處理成相應(yīng)的數(shù)據(jù)結(jié)果，供傳送、顯示、打印輸出。集中式計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)具有人機(jī)界面良好，操作簡(jiǎn)單，功能齊全等優(yōu)點(diǎn)。

　　集中式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的核心技術(shù)是多路采集卡，目前，生產(chǎn)采集卡的廠家較多，大多只適用于工業(yè)控制。

　　分布式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

　　多個(gè)測(cè)試模塊或測(cè)試子系統(tǒng)，通過統(tǒng)一的通訊接口與上位機(jī)連接，即可構(gòu)成分布式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。其優(yōu)點(diǎn)是組合能力強(qiáng)，易于擴(kuò)展;測(cè)試模塊或子系統(tǒng)獨(dú)立性強(qiáng)，易于維護(hù);分散測(cè)量，集中管理，對(duì)系統(tǒng)硬件要求低，可靠性高;采用數(shù)字通訊取代模擬信號(hào)傳輸，電磁兼容性能好，適合惡劣環(huán)境工作。

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