LTE面試問題及答案
LTE面試問題及答案
LTE測試中關(guān)注哪些指標(biāo)?下面就由學(xué)習(xí)啦小編為大家介紹一下LTE面試問題及答案的文章,歡迎閱讀。
LTE面試問題及答案篇1
1. LTE測試用什么軟件?什么終端?
答:LTE測試前臺(tái)測試使用華為出的測試軟件GENEX Probe,后臺(tái)分析使用GENEX Assistant ; 測試終端有:CPE(B593s)、小數(shù)據(jù)卡(B398和B392)、TUE
2. LTE測試中關(guān)注哪些指標(biāo)?
答:LTE測試中主要關(guān)注PCI、RSRP(接收功率)、SINR(信號(hào)質(zhì)量)、PUSCH Power(UE的發(fā)射功率)、傳輸模式(TM3為雙流模式)、上下行速率、掉線率、連接成功率、切換成功率„„„„MCS調(diào)制與編碼的方式 越高信號(hào)質(zhì)量越好 0-31也能分配更多資源 RB無線資源塊
3. UE的發(fā)射功率多少?
答:LTE中UE的發(fā)射功率由PUSCH Power 來衡量,最大發(fā)射功率為23dBm;
LTE面試問題及答案篇2
1. LTE和CDMA有什么相同點(diǎn)和不同點(diǎn)?
答:1、網(wǎng)絡(luò)構(gòu)架不同,LTE無基站控制器,即2G中的BSC和3G的RNC;
2、CDMA使用的是碼分多址技術(shù),LTE使用的是OFDM技術(shù);
3、CDMA有CS和PS域,LTE只有PS域;
4. LTE各參數(shù)調(diào)度效果是什么?
1、20M帶寬有100個(gè)RB,只有滿調(diào)度才能達(dá)到峰值速率,調(diào)度RB越少速率越低;
2、PDCCCH DL Grant Count 在F\D\E頻段中下行滿調(diào)度為600次/秒,只有滿調(diào)度才能達(dá)到峰值速率,調(diào)度次數(shù)越少速率越低;PDCCCH UL Grant Count 在F頻段中上行滿調(diào)度為200次/秒,D\E頻段中上行滿調(diào)度為400次/秒,只有滿調(diào)度才能達(dá)到峰值速率,調(diào)度次數(shù)越少速率越低;
5. LTE后臺(tái)操作相關(guān)步驟,包括添加鄰區(qū)、調(diào)整參數(shù)等?
6. LTE上下行都有什么信道?
LTE面試問題及答案篇3
1. 控制信道具體相關(guān)信息?
答:物理下行控制信道( PDCCH: Physical downlink control channel )
1、通知UE PCH和DL-SCH資源分配以及與DL-SCH相關(guān)的混合HARQ信息
2、承載上行鏈路調(diào)度允許信息
3、多路PDCCH可以在一個(gè)子幀中傳送
4、子幀中用于PDCCH的OFDM符號(hào)設(shè)置為前n個(gè)OFDM符號(hào),其中n £ 3
2. 作為一個(gè)地市的負(fù)責(zé)人,需要做些什么?
3. PCI規(guī)劃?
答:PCI規(guī)劃的原則:
對主小區(qū)有強(qiáng)干擾的其它同頻小區(qū),不能使用與主小區(qū)相同的PCI(異頻小區(qū)的鄰區(qū)可以使
用相同的PCI)電平,但對UE的接收仍然產(chǎn)生干擾,因此這些小區(qū)是否能采用和主小區(qū)相同的PCI(同PCI復(fù)用)
鄰小區(qū)導(dǎo)頻符號(hào)V-shift錯(cuò)開最優(yōu)化原則;
基于實(shí)現(xiàn)簡單,清晰明了,容易擴(kuò)展的目標(biāo),目前采用的規(guī)劃原則:同一站點(diǎn)的PCI分配在同一
個(gè)PCI組內(nèi),相鄰站點(diǎn)的PCI在不同的PCI組內(nèi)。
對于存在室內(nèi)覆蓋場景時(shí),規(guī)劃時(shí)需要考慮是否分開規(guī)劃。
鄰區(qū)不能同PCI,鄰區(qū)的鄰區(qū)也不能采用相同的PCI;
PCI共有504個(gè),PCI規(guī)劃主要需盡量避免PCI模三干擾;
4. LTE與TD的區(qū)別,對LTE的認(rèn)識(shí)?
1、網(wǎng)絡(luò)構(gòu)架不同,LTE無基站控制器,即2G中的BSC和3G的RNC;
2、TD使用的是時(shí)分雙工碼分多址技術(shù)(TD-SCDMA),LTE使用的是正交頻分多址OFDM技術(shù);
3、TD有CS和PS域,LTE只有PS域;
4、幀結(jié)構(gòu)不相同;